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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心無損檢測設(shè)備回彈儀BJHT-1/A一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A

一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A

產(chǎn)品簡介

一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A據(jù)中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DB/T50315-2000《砌體工程現(xiàn)場檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》中的“回彈法"所設(shè)計,于測定工業(yè)與民用一般建筑物燒結(jié)普通磚砌體中砌筑砂漿的抗壓強度的無損檢測。

產(chǎn)品型號:BJHT-1/A
更新時間:2024-02-05
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:1784
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產(chǎn)地類別國產(chǎn)

一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A

一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A

  型號:BJHT-1/A

 據(jù)中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DB/T50315-2000《砌體工程現(xiàn)場檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》中的“回彈法”所設(shè)計,于測定工業(yè)與民用一般建筑物燒結(jié)普通磚砌體中砌筑砂漿的抗壓強度的無損檢測。 
各類建筑工程中普通混凝土抗壓強度的無損檢測。


一體化設(shè)計,結(jié)構(gòu)緊湊、小巧,無需檢測主機便可獨立工作
采用*的光電式傳感器,檢測精度高、使用壽命長
采用OLED液晶顯示屏,全中文界面,操作方便。
構(gòu)件及測區(qū)參數(shù)可現(xiàn)場錄入,并自動計算構(gòu)件檢測結(jié)果
具備實時時鐘日歷功能,可自動記錄每個構(gòu)件的檢測日期及時間。*的低功耗管理功能,可設(shè)置屏幕背光、語音音量,自動休眠,并有自動關(guān)機功能。
大容量數(shù)據(jù)存儲,zui多可存儲 2000 個標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)件,一個標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)件zui多可檢測 16個測區(qū),*實際檢測工作的需要。

內(nèi)置大容量鋰電池,可反復(fù)充電使用,減少后期的使用成本,避免了一次性堿性電池帶來的高成本及對環(huán)境污染等缺點。
技術(shù)指標(biāo):
1) 沖擊動能 0.196J
2) 彈沖擊長度 75±0.3mm
3)指針滑塊的摩擦力 0.5±0.1N
4) 彈擊拉簧工作長度 61.5±0.3mm
5) 彈脫鉤位置 刻度尺“100”刻線
6) 彈擊桿端部球面半徑 25±1mm
7) 彈起跳位置 刻度尺“0+1”處
8)鋼砧上的率定值 74±2

一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 數(shù)字一體回彈儀 一體式回彈儀
儀器配置:

1)提箱 1 只;
2)回彈儀主機 1 臺;
3)電腦聯(lián)機通信用 USB 線 1 條;
4)充電電源適配器;
5)《說明書》1 本;
6)程序光盤 1 張;

產(chǎn)品名稱:地質(zhì)羅盤儀 
產(chǎn)品型號: DQL-8

地質(zhì)羅盤儀 型號:DQL-8 
一、用途 
 DQL-8型地質(zhì)羅盤儀主要用途可供: 
1 測產(chǎn)狀:包括走向、傾向、傾角; 
2 地形草測:包括定方位(即交會定點),測坡角,定水平; 
3 測垂直角 
二、主要性能 
1 磁針阻尼時間(磁針偏轉(zhuǎn)90°至停留在原位置上的時間)小于15秒。 
2 讀數(shù)誤差: 
a 磁針轉(zhuǎn)動前后所指示之度數(shù)誤差不大于0.5°; 
b 磁針在0-180°、90-270°處由于偏心所引起誤差不大于0.5°; 
c 測角器的讀數(shù)誤差不大于0.5°。 
3 水準(zhǔn)器靈敏度: 
a 長水準(zhǔn)器20′±5′/2mm 
b 圓水準(zhǔn)器30′±5′/2mm 
4 儀器外觀尺寸(長×寬×高)為80×70×35(mm)。 
5 儀器重量為0.24kg。 
三、原理、結(jié)構(gòu) 
1、原理:本儀器是利用一個磁性物體(即磁針)具有指明磁子午線的一定方向的特性,配合該度環(huán)的讀數(shù),可以確定目標(biāo)相對于磁子午線的方向。根據(jù)兩個選定的測點(或已知的測點),可以測出另一個未知目標(biāo)的位置。 
2、結(jié)構(gòu) 
儀器由上蓋與外殼通過聯(lián)接合頁構(gòu)成儀器主體。上蓋內(nèi)裝有反光鏡,可使目標(biāo)映入鏡中。外殼的外部裝有長照準(zhǔn)器,配合小照準(zhǔn)器可瞄準(zhǔn)目標(biāo)。外殼內(nèi)裝有刻度盤和磁針,可以直接讀出目標(biāo)的方位置,圓水準(zhǔn)器可以指示儀器的水平位置。長水準(zhǔn)器和指示盤供測量坡角用,可以在方向盤的傾角刻度上直接讀數(shù)。開關(guān)為磁針制動機構(gòu),在外殼的側(cè)面?zhèn)溆写牌钦{(diào)整軸。 
該儀器具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、攜帶方便、精度可靠、性能穩(wěn)定等特點。 
四、使用方法 
(一)測產(chǎn)狀(包括走向、傾向、傾角) 
1 測走向: 
走向即巖脈在水平上投影的方向。 
將儀器上蓋打開到限位置,用開關(guān)放松磁針,調(diào)好本地區(qū)的磁偏角,將儀器兩個長邊靠在巖層的特征面(具有代表性的面),保持圓水泡居中,則讀磁針北所指示的度數(shù),即為巖層的走向。 
2 測傾向: 
垂直于走向所批示的面的方向 
用聯(lián)接合頁下邊的底盤的短邊或上蓋的背面靠穩(wěn)巖層的特征面,保持圓水泡居中,則讀磁針北所指示的傾向。 
3 測傾角: 
垂直于走向水平面夾角的角度。 
先用開關(guān)將磁針鎖住,上蓋打開到限位置,儀器的側(cè)邊垂直于走向而貼緊巖層的特征面,調(diào)長水泡居中,讀指示器所指的方向盤的度數(shù),即為巖層的傾角。 
在實際測量中,走向和傾向兩因素,只需測其中一個就可以,因為走向和傾向是互為90°的關(guān)系。 
(二)地形草測(包括定方位、測坡角、定水平線) 
1 定方位: 
目標(biāo)所處的方向和位置,定方位也叫交會定點。 
① 當(dāng)目標(biāo)在視線(水平線)上方時的測量方法。 
右手握緊儀器,上蓋背面向著觀察者,手臂貼緊身體,以減少抖動,打開磁針,左手調(diào)整長照準(zhǔn)和反光鏡,轉(zhuǎn)動身體,使目標(biāo)、長照準(zhǔn)尖的象同時映入反光鏡,并為鏡線所平分,保持圓水泡居中,則讀磁針北所指示的度數(shù),即為該目標(biāo)所處的方向。 
按照同樣的方法,在另一側(cè)點對該目標(biāo)進行測量,這樣兩個測點對同一目標(biāo)進行的測量得出兩線沿著測出的度數(shù),相交于目標(biāo),就得出目標(biāo)的位置。 
② 當(dāng)目標(biāo)在視線(水平線)下方時的測量方法 
右手緊握儀器、反光鏡的觀察者的對面,手臂同樣貼緊身體,產(chǎn)減少抖動,打開磁針。左手調(diào)正長照準(zhǔn)器和上蓋轉(zhuǎn)動身體、使目標(biāo)照準(zhǔn)尖同時映入反光鏡的橢圓孔中,并為鏡線所平分,保持圓水泡中,則讀磁針北所指示的度數(shù),即為該目標(biāo)所處的方向。 
按照同樣的方法,在另一測點對該目標(biāo)進行測量。這樣從兩個測點對該目標(biāo)進行測量,得出兩線沿著測出的度數(shù),相交于目標(biāo),就得出目標(biāo)的位置。 
2 測坡角: 
目標(biāo)到觀察者與水平面的夾角。 
先將磁針鎖住,右手握住儀器外殼和底盤,長照準(zhǔn)器在觀察者的一方,將儀器平面垂直于水平面,長水泡居下方。左手調(diào)正上蓋和長照準(zhǔn)器,使目標(biāo)、照尖的孔同時為反光鏡橢圓孔刻線所平分。然后右手中指調(diào)正手把、從反光鏡中觀察長水包居中,此時指示盤在方向盤上所指示的度數(shù),即為該目標(biāo)的坡角。 
如果測某一坡面的坡角,則只需把上蓋打開到限位置,將儀器測邊直接放在該坡面上,調(diào)整長不泡居中,讀出該坡面的坡角。(與測產(chǎn)狀中的傾角相同。) 
3 定水平線: 
先將磁針鎖住,指導(dǎo)長照準(zhǔn)器扳至與盒面成一平面,上蓋扳至90°而照準(zhǔn)尖豎直,平行上蓋,將指示器對準(zhǔn)“O”,則通過照準(zhǔn)尖上的視孔和反光鏡橢圓孔的視線,即為水平線。 
(三)測物體的垂直角 
先將磁針鎖住,把上蓋扳到限位置,用儀器測面貼緊物體(如鉆杠)具有代表性的平面,然后調(diào)長水泡居中,此時指示器的讀數(shù),即為該物體的垂直角。 
五、注意事項 
1 磁針和軸尖、瑪瑙軸承是儀器主要的零件,應(yīng)小心保護,保持干凈,以免影響磁針的靈敏度,不工作時,應(yīng)把磁針鎖牢,以減少磨損。 
2 的有合頁不要輕易拆卸,以免松動而影響精度。 
3 儀器盡量避免高溫暴曬,以免水泡漏氣失靈。 
4 合面轉(zhuǎn)動部分應(yīng)經(jīng)常點些鐘表油以免干磨而折斷。 
5 長時期不使用時,應(yīng)放在通風(fēng)、干燥地方,以免發(fā)霉。 
技術(shù)參數(shù) 
長水準(zhǔn)器角值: 15’±3’/2mm  
圓水準(zhǔn)器角值: 30’±5’/2mm  
測角器讀數(shù)差: ≤0.5°  
度盤格值: 1°  
重量: 0.27kg  
尺寸: 80×70×35(mm) 

 

產(chǎn)品名稱:雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀
產(chǎn)品型號:KDB-3

雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀  型號:KDB-3

 KDB-3雙組合測試儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SEMI MF1529設(shè)計,雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中,在測試樣品的每個測量位置上,以兩種不同的方式(配置)將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測量。單組合四探針相比,用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量,從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。  
儀器特點如下:  
1、配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時,另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全過程中的電流變化,使操作更簡便,測量更精確。  
數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV  靈敏度:10μV  輸入阻抗:1000ΜΩ  
                        基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)  
2、可測電阻率范圍:10—4 —1.9×104Ω·cm。  
     可測方塊電阻范圍:10—3 —1.9×105Ω/□。  
3、設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能,當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值;同樣,當(dāng)四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、3探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、4探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對測量的干擾。  
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定(萬分之五精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響,整機測量精度<3%。  
電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。  
5、儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器(>10萬次),在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測試儀的可靠性和使用壽命。  
6、可選配軟件進行數(shù)據(jù)采集,可進行雙組合或單組合測量,實現(xiàn)自動切換電壓檔位、讀取相應(yīng)電壓值,根據(jù)不同方法計算電阻率或方塊電阻值;軟件可對測量數(shù)據(jù)進行分析,如平均值,大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nèi)容。  
7、可配KDDJ-3電動測試架,自動上下運行,使測量更方便快捷。  

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