麻豆在线观看,在线看欧美a,国产熟女一二区,1111111网站

技術(shù)文章

Technical articles

當(dāng)前位置:首頁技術(shù)文章使用光耦參數(shù)測(cè)試儀

使用光耦參數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間:2017-11-28點(diǎn)擊次數(shù):473

光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào):JFY3010A

JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀詳細(xì)介紹 
※概述: 
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀,是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,電子產(chǎn)品或電子元件供應(yīng)商來料檢測(cè)。 
※             測(cè)量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦 
※             測(cè)量參數(shù):

參數(shù)指標(biāo)表:

參數(shù)項(xiàng)

測(cè)試參數(shù)

測(cè)試條件設(shè)置

輸入正向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐壓(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳輸比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V